光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

光応用計測・検査装置 出力~10Wクラス高出力レーザ計測対応光ビームプロファイル計測装置

高出力レーザ用NFP計測装置

製品の概要
高出力レーザ用NFP計測装置

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高出力レーザ用光ビームNFP計測装置は、出力~10Wクラス高出力レーザのNFP計測に対応した光ビーム形状計測装置です。

光学系は、当社製ハイパワーレーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HLを使用、高出力レーザの近視野像(ニアフィールドパターン:Near Field Patterm)の計測が可能です。測定サンプルより出射された光束は、対物レンズ前段の ビームサンプラ―により約5%に減光、さらに後段のフィルタ挿入ポートへの減光フィルタ挿入により減光を行い、適正な光量に減光されたNFP像を結像レンズにて2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。

計測波長は、400nm~1100nmの波長帯からの1波長選択となります。出力~10Wクラス高出力レーザ用レーザビームプロファイラに適したシステムです。

製品の特長

  • 高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HLを使用。
    • 対物レンズ前段ビームサンプラ―と減光フィルタにより入射光を適正レベルに減衰。
    • 最大20倍の光学倍率(対物レンズ10倍と2倍中間レンズポート(オプション)装着時)
  • 測定可能波長域は、400nm~1100nmの可視域に対応(当該計測波長範囲から計測波長を指定ください)
  • 解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013
    • オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
    • 光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard
      • 当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。

製品の主な応用

  • 出力~10Wクラス高出力レーザ用レーザビームプロファイラ
  • 高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析
    • LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発
    • レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発
    • 生体認証用レーザモジュールの開発
    • その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析
  • その他、各種高出力レーザのビームプロファイル計測一般

製品の構成・コンポーネントセレクション

装置の構成図
コンポーネントセレクション
オプション・アクセサリ セレクション
  • 高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL 本体オプション
    • 2倍中間レンズポート MS-OP011-RL2
      • 光学系の総合拡大倍率を2倍にする中間レンズユニットです。100倍対物レンズとの組合せで最大200倍の光学倍率になります。
    • 1/2倍中間レンズポート MS-OP011-RLH
      • 光学系の総合拡大倍率を1/2倍にする中間レンズユニットです。
    • 着脱式落射照明ポート MS-OP011-CEP
      • ハーフミラー着脱式の同軸落射照明ポートです。測定の際にはハーフミラーを外すことができます。
  • NDフィルタ
    • NDフィルタはこちらをご参照ください。
  • 同軸落射照明装置
    • 同軸落射照明装置はこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

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  • その他さまざまな目的・用途に対応した光計測用光学系・光学計測装置を各種取り揃えております。

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