光計測用高機能光学系・光計測システムソリューション

光応用計測・検査装置 汎用光ビームプロファイル計測システム

光ビーム解析モジュール AP013

製品の概要
光ビーム解析モジュール AP013

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光ビーム解析モジュール AP013は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を目的とした画像処理・解析用モジュールです。

当社の光計測用光学系 M-Scopeシリーズ・2次元光検出器 ISAシリーズとの組合せにより、可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。

光ビーム解析モジュールは、解析装置(PC)本体、光ビーム計測・解析ソフトウエアOptometrics BA Standard(又はOptpmetrics BA Basic)(ライセンスキー 1ライセンス)、検出器用ドライバソフトウエア、補正データ、付属ケーブル類 各1式から構成されます。特別な設定作業を必要とせず、検出器を接続するだけで直ちに使用可能です。

さらに、最新バージョン(Optometrics BA Standard ver 3)では、従来のビームプロファイル解析に加え、新たに光パワー分布計測機能(4σ法、D86)解析機能が加わりました。各種光学系・検出器の組合せにより、高機能レーザビームプロファイラが構築できます。

製品の特長

  • 解析装置(PC本体)・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データのセットで直ちに使用可能
  • 【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア
    • 光ビームプロファイル計測に必須の光ビームパラメータ計測機能
    • 【光パワー分布解析機能】EF(エンサークルドフラックス)/EAF(エンサークルドアンギュラーフラックス)解析機能
    • 【新機能:光パワー分布解析機能】D86幅解析機能
    • 【新機能/光パワー分布解析機能】4σ法によるXY軸幅・長短径幅・傾き計測解析機能
    • 光強度プロファイル計測のみに機能を限定したOptometrics BA Basicも選択可能。

製品の主な応用

  • 画像処理解析方式の高機能レーザビームプロファイラ
  • さまざまな発光素子や光デバイス・光モジュールの発光ビームプロファイル計測・NFP計測
    • 半導体レーザやレーザデバイス、各種光ファイバ、各種光導波路、光モジュール、光学モジュール等
  • 各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測
  • 光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
  • 光配線導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
  • マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス・エンサークルドフラックス解析
  • その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般

製品の構成と仕様

製品の主な構成
  • データ解析装置(PC)本体(デスクトップ型またはノート型) 1式
    • 主な仕様
      • OS:Microsoft Windows 10 professional 64bit
      • プロセッサ:Intel Core i5 相当品以上
      • メインメモリ:8GB(16GBを推奨)
      • ディスプレイ解像度:FHD(1920×1080)
      • 構成品:PC本体・付属品(電源ケーブル類等) 各1式
        • ご注意)データ解析装置(PC本体)の仕様は予告なく変更となる可能性があります。
  • 光ビーム計測・解析ソフトウエア Optometrics BA Standard (Ver. 3)(またはOptometrics BA Basic(Ver.3))
    • 構成品:インストール用メディア(CD)・ライセンスキー(USB) 各1式
  • 光センサ(2次元光検出器)用カメラドライバ(カメラ補正データを含む)
    • Optometrics BA Standard用インストールメディアに同梱
  • 光学系用補正データ
    • NFP計測光学系・FFP計測系等、弊社製光学系を同時購入時に付属
    • Optometrics BA Standard用インストールメディアに同梱
Optometrics BA Standard(またはBasic)対応検出器

光ビーム解析ソフトウエア Optometrics BA Standard

光ビーム解析ソフトウエア Optometrics BA Standardの概要

光ビーム計測・解析ソフトウエア Optometrics BA Standardは、当社独自の光ビーム計測・解析用各種機能を搭載した画像処理・解析ソフトウエアです。

光ビーム観察から各種発光特性パラメータ解析まで幅広い用途に適用できます。当社製NFP・FFP計測装置や各種励振器・励振光源との組み合わせにより、さまざまな条件下での光デバイス光学特性解析に応用可能です。

Optometrics BA Standardでは、光パワー分布解析機能を標準装備しています。マルチモード光ファイバ・プラスチック光ファイバのエンサークルドフラックス(EF)、エンサークルドアンギュラーフラックス(EAF)解析機能やD86幅測定が可能です。さらに、4σ法によるXY幅、長短径幅、傾きを計測する機能が加わりました。

なお、Optometrics BA Standardから光パワー分布解析機能を除き、光強度分布解析機能のみに限定したOptometrics BA Basicの選択も可能です。

光ビーム解析ソフトウエア Optometrics BA Standardの機能
光ビーム解析の基本機能

光ビーム計測ソフトウエアのメインオペレーション画面です。

メインオペレーション画面では、画像の取得・検出器の設定・ビーム幅計測・光強度プロファイル計測・補正係数設定・画像セーブ・ロード等のほとんどの操作を直観的に行うことができます。

その他、付属する計測機能として、総輝度計測機能(指定された最大5か所のエリア内総輝度量をカウント)・任意方向プロファイル計測機能(指定した2点間の光強度プロファイルと幅計測を実行)等の機能が使用できます。

エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス解析機能

エンサークルドフラックス(EF)・エンサークルドアンギュラーフラックス(EAF)解析機能(Optometrics BA Standardに標準搭載)は、光ビームの2次元光パワー分布解析を行い、エンサークルドフラックス(EF)・エンサークルドアンギュラーフラックス(EAF)解析グラフを求めます。マルチモード光ファイバ(MMF)・プラスチック光ファイバ(POF)等の光伝播特性解析に適しています。また、EF/EAF解析からD86幅(ビームパワーの86%が含まれる円の直径から計算された幅)を求めます。EF/EAFマスクの表示機能も付加しています。

解析したEF/EAFグラフはcsv形式で出力可能です。

ビーム幅解析機能・【新機能】D4σ解析機能

当社の光ビーム計測解析ソフトウエア Optometrics BA Standardでは、光強度分布(ビームプロファイル)解析、および半値幅・1/e2幅・任意%down幅計測を行います。また、プロファイルのガウシアンフィッティング、任意方向プロファイル、総輝度計測等の豊富な解析機能を有しています。

さらに、新機能としてD4σ解析機能(Optometrics BA Standardに標準で搭載)が加わりました。4σ法によりビームのパワー分布解析を行い、XY幅または長短軸幅、傾きを計算します。

解析したデータはcsv形式で出力可能です。

オプション Socket通信外部制御ソフトウエア AP013-ExC

  • TCP/IP Socket通信(WinSock)にて、Optometrics BA Standard/Basicの各機能を外部ソフトウェアから制御可能
    • 解析パラメータは基本的にはメインソフトウェア画面上から変更しますが、一部のパラメータはコマンドで変更可能です。
    • 解析結果はコマンドで取得可能ですが、画像およびプロファイルデータは本ソフトウェアと制御プログラム間で送受信は出来ません。
    • 画像およびプロファイルデータが必要な場合、制御プログラムから本ソフトウェアへ保存の命令(SAVE,REP)を送り保存します。そして、その保存された画像およびプロファイルデータを制御プログラムで参照します。

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