光計測装置 ハイパワーレーザ用NFP計測装置

装置の概要

ハイパワーレーザ用光ビームNFP計測装置は、高出力レーザやファイバレーザ等の高出力レーザ計測用の光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能なハイパワー専用光ビームプロファイラシステムです。

光学系は当社のハイパワーレーザ用NFP計測光学系 M-Scope type Hを使用、当社製各種可視域用光検出器・光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせにより、さまざまな高出力発光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。

計測可能波長域は、400nm-700nmの可視域に対応しています。

特長

応用

  • レーザヘッドライト用、直接加工用、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析
  • その他、各種高出力レーザのビームプロファイル計測一般

コンポーネントセレクションと装置構成

装置のブロックダイアグラム

主要構成品

オプション

  • NDフィルタ
    • NDフィルタはこちらをご参照ください。
  • 同軸落射照明装置
    • 同軸落射照明装置はこちらをご参照ください。
  • 光学系用架台
    • 光ファイバ測定用光学系架台
    • 縦型光学系設置架台
      • 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。

関連製品情報

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