光計測用光学機器関連製品
限定空間励振光学系 M-Scope type G
製品の概要
限定空間励振光学系 M-Scope type G
限定空間励振光学系 M-Scope type Gは、励振光源の照射条件（光照射サイズ、照射N.A.）を変更して、さまざまな励振条件下で励振条件を変更しながら光ファイバ・光配線導波路等の伝送特性の測定・解析が可能な光照射用光学系です。観察カメラポートを装備していますので、照射スポットの位置・照射スポットサイズを画像により直接観察することができます。
当社製NFP計測装置、FFP計測装置、エンサークルドフラックス/エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置との組合せ使用により、さまざまな励振状態下での光ファイバの光学伝播特性の測定・解析が可能です。
製品の特長
- 光学的に照射径・照射N.A.条件を可変可能。さまざまな照射・励振条件下で光ファイバ・光配線導波路等の光学特性や伝播特性の解析が可能
- 照射位置観察用カメラポートを搭載。同軸観察カメラ装着により、照射位置や照射状態、照射径を直接観察可能
- 当社標準の850nmSLD光源 LSS002/850の他、LED光源、LD光源、SLD光源等さまざまな種類・波長の光源選択が可能。
- 当社のNFP計測装置、FFP計測装置、エンサークルドフラックス/エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置との組合せにより、さまざまな特殊励振条件下での光ファイバの光学伝播特性の測定・解析が可能
製品の主な応用
- マルチモード光ファイバ（MMF）、プラスチック光ファイバ（POF）等各種光ファイバの励振条件による損失や伝播特性等光学特性の測定
- ポリマー光導波路等の光配線導波路の励振条件による損失や光学伝播特性等光学特性の評価
- その他、マルチモード光デバイスの光学・伝播特性の解析評価
製品の主な仕様
光学系本体の主な仕様
| 照射N.A. | 0.1-0.65の範囲で連続可変 |
|---|---|
| 照射スポットサイズ | φ10μm、φ20μm、φ40μm、φ80μm、φ120μm（アパーチャによる切り出し方式） |
| 対応波長 | 850nm（標準）、＊他の波長にも対応致します。 |
| 使用光ファイバ | φ1mm 励振用大口径光ファイバ |
| カメラマウント | Cマウント |
限定空間励振光学系の原理
限定空間励振光学系は、マルチモード光ファイバなどの励振条件である光照射スポットサイズ・照射N.A.を変更して、マルチモード光ファイバの伝送特性の測定・解析を行うための光学方式励振器です。
左図は、限定空間励振のイメージ図です。限定空間励振光学系の場合、照射N.A.で指定した範囲内の全N.A.の光束の励振光で被測定ファイバを励振します。このため、励振光はトップフラット形状の光強度分布をもつスポット状の光になります。
限定空間励振光学系では、左図の照射N.A.（0.1-0.65の間で連続可変）、アパーチャの変更により、照射径（φ10μm、φ20μm、φ40μm、φ80μm、φ120μm）を変更することができます。
製品の構成
標準構成品 限定空間励振光学系 M-Scope type G
- 限定空間励振光学系本体 1式
- 照射スポット切り出し用アパーチャ 5枚/セット
- 光学系保持固定用架台 1式
- 同軸観察用CMOS検出器（本体・電源・接続ケーブル） 1式
オプション
- 高出力・低コヒーレント850nmSLD光源 LSS002/850
- 850nm広帯域SLD光源です。中心波長は850nm±20nm、半値全幅約20nmの温調付高安定・広帯域光源です。詳細はこちらをご参照ください。
- その他の光源に関してはこちらをご参照ください。
- NDフィルタ
- NDフィルタはこちらをご参照ください。
- 光学系用架台
- 光ファイバ測定用光学系架台
- 縦型光学系設置架台
- 光学系用架台に関してはこちらをご参照ください。
外観図面
外観図面 M-Scope type G
- 本外観図面は参考図です。装着オプション・装着センサにより外観・寸法は変わります。詳細な外観図面は別途ご連絡、ご確認ください。